數(shù)字/局部放電檢測(cè)儀
更新時(shí)間:2024-09-13
數(shù)字/局部放電檢測(cè)儀,該儀器在原有產(chǎn)品局放儀的基礎(chǔ)上采用嵌入式ARM系統(tǒng)作為中央處理單元,控制12位分辨率的高速模 數(shù)轉(zhuǎn)換芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,將采集到的數(shù)據(jù)存放在雙端口RAM中。實(shí)現(xiàn)從模擬到數(shù)字的跨越。使用26萬(wàn)色高分辨率TFT-LCD數(shù)字液晶顯示模組實(shí)時(shí)顯示放 電脈沖波形,配備VGA接口,可外接顯示器。與傳統(tǒng)的模擬式示波管顯示局部放電檢測(cè)儀相比有以下特點(diǎn)。